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      日本日置阻抗分析儀IM3570的特點
      點擊次數:1107 發布時間:2021-02-01

      日本日置阻抗分析儀IM3570概述

      1臺儀器實現不同測量條件下的高速檢查

      阻抗分析儀IM3570測量方式:壓電元件的共振特性的測量

      LCR測試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過掃頻測量和峰值比較器功能對共振狀態進行合格判定,并在LCR模式想能通過1kHz或120Hz的LCR測量進行檢查。掃頻測量和LCR測量一臺儀器全部實現。

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      日本日置阻抗分析儀IM3570特點

      ★ 1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
      ★ LCR模式下樶快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
      ★ 基本精度±0.08%的高精度測量
      ★ 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
      ★ 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
      ★ 可以用于無線充電評價系統TS2400

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