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      高頻阻抗分析儀廣泛應用于電子元器件
      點擊次數:817 發布時間:2021-05-14
         高頻阻抗分析儀是廣泛應用于電子元器件、電子材料的高頻特性測量,以及電路和天線輸入輸出阻抗的測量。測量準確度實際上取決于使用校準終端的準確度和校準的正確性。
        高頻阻抗分析儀的維護:
        注意不要把已充電的電容器或內部電路作為被測件,防止損壞儀器。
        終端用后保持連接套筒螺絲伸出,以防終端表面損壞。
        測試端口在平時不測量時用保護套套上。
        儀器的測試端口表面、終端、夾具需要保持不受灰塵、油等的污染,以免接口接觸不良,還需定期用揮發性的溶劑清洗或使用棉絨布擦拭。注意不要用四氯化碳、高濃度的乙醇等,接觸清洗液的時間要盡可能短。
        對儀器需要外送進行檢定時,建議條件允許,請檢定機構上門服務(因標準便于攜帶),減小儀器的振動。
        高頻阻抗分析儀的技術要求與低頻阻抗測量儀在設計技術上使用電路及機械結構等方面明顯不同(包括測試電纜,自動平衡電橋和其他電路設計)。殘余阻抗,相位漂移,傳輸損耗和“集總常數測量電路”結構容易產生有害的影響,在高頻矢量測量中是無法確定的因素。
        而且這些影響隨測試頻率升高而增加,產生明顯的測量誤差,至使測量范圍變窄。這樣,在高頻范圍矢量測量中方便的方法是用“分布常量測量電路“其優點是可以實現在寬的頻率范圍內電路性能不變,測量電路檢測的矢量信號能用簡單的數學式精密表示。將信號加到連接在測試端口的試樣上,檢測試樣反射波與入射波的矢量電壓比來測量反射系數,通過反射系數與阻抗的關系導出試樣要求的參數,代替了低頻阻抗儀器的矢量電壓電流比率的測量方法。
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