高頻LCR測試儀，L：電感（為了紀念物理學家Heinrich Lenz），C：電容(Capacitor)，R：電阻(Resistance)，LCR數字電橋就是能夠測量電感，電容，電阻，阻抗的儀器。隨著現代模擬和數字技術的發展，早已經淘汰了LRC電橋這種測量方法，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數字電橋。一般用戶又稱這些為：LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、數字電橋、LCR Meter等等。

　　高頻LCR測試儀原理：

　　Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當DUT(Device Under Test)接入電路時，放大器的負反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準確測定DUT兩端電壓（DUT的Low電位是0），Vr與Rr測得DUT電流Ix，由此可計算Zx。

　　HP4275的測試端Hp,Hc,Lp,Lc（下標c代表current, 下標p代表Potentail)，Guard（接地)的配置可導致測試的誤差的差異。

　　提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT; 2,減小測試電流Ix的回路面積&磁通量（關鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable回路面積);3,使用Gurard與Cable構建地平面中斷信號線間的電場連接，雖然會增加信號線的對地電容（對地電容不影響測試結果），但是會減少信號線的互容。

　　Guard與Cable的對地寄生阻抗（Zhg,Zlg) 不影響測試結果，電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。

　　高頻LCR測試儀一般用于測試電感和電容。使用時先設置測試頻率；測試電壓或者電流水平；選擇測試參數，比如Z、Q、LS（串聯電感）、LP（并聯電感）、CS(串聯電容）、CP（并聯電容）、D等；儀器校準，校準主要進行開路、短路校準，儀器要進行負載校準；選擇測試夾具；夾具補償；再將DUT放在夾具上開始測試即可。